Speicher, Mikroprozessoren, Opto-, MEMS- und NEMS-Bauteile zusammen mit den passiven Komponenten sind das Hauptthema des Buches.
Praktische Methoden zur Untersuchung der Zuverl ssigkeit sind erg nzt durch umfangreiche Tabellen und veranschaulicht durch zahlreiche Diagramme.
Damit erh lt der Leser pr zise, praxisnah und umfassend s mtliche Zuverl ssigkeitsaspekte einfacher und komplexer elektronischer Bauelemente - von der Fehlerphysik ber die Pr ffeldpraxis und Ausfallmechanismen bis zur Qualit ts berwachung.
About the Author Titu-Marius I.
B jenescu ist emeritierter Universit tsprofessor und war zuletzt als unabh ngiger Berater in den Bereichen Telekommunikation, Zuverl ssigkeit, Qualit t und Sicherheit elektronischer Systeme t tig.
Er hat an zahlreichen europ ischen Universit ten geforscht und gelehrt und f r seine Leistungen zwei Ehrendoktortitel erhalten.
Er ist Autor mehrerer B cher zum Thema elektronischer Bauelemente in franz sischer, rum nischer, englischer und deutscher Sprache.